Apresentação

O VIII Congresso de Microscopia dos Materiais (VIII MICROMAT) será realizado de 16  a 20  de novembro de 2014 , nas instalações do Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano), que é parte do Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM) e no Hotel Vitória Concept em Campinas (http://www.vitoriahoteis.com.br/pt/concept/campinas/).

Este congresso faz parte do calendário oficial da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise (SBMM)
O Laboratório Nacional de Nanotecnologia possui instalações multi-usuário abertas tanto para a microscopia eletrônica quanto para a microscopia de sondas, além de uma instalação única de microscopia infravermelha de alta resolução.

Este congresso visa a divulgação de importantes resultados recentes utilizando das mais diversas formas de microscopias (eletrônica, de sondas, ótica, etc) e a formação e capacitação de alunos de pós-graduação e graduação, assim como de tecnologistas, pesquisadores e professores em cursos/tutoriais básicos e avançados em áreas especificas das microscopias. As palestras de divulgação serão ministradas por professores/pesquisadores de destaque internacional e nacional. Os cursos/tutoriais serão ministrados por especialistas/engenheiros de aplicação de diferentes fabricantes de equipamentos de Microscopia e ou técnicas acopladas e preparação de amostras.

Objetivos do evento
O congresso tem dois objetivos principais, a saber: a divulgação do uso de técnicas avançadas das mais diversas formas de microscopia por pesquisadores/professores conceituados na área e a capacitação em técnicas básicas e avançadas de Microscopias Eletrônica de Transmissão (TEM), Microscopia Eletrônica de Varredura (SEM), Microscopia de Força Atômica (AFM), Microscopia de Tunelamento (STM) e demais microscopias. A capacitação visa atingir estudantes, tecnologistas, pesquisadores e professores das áreas de engenharia e ciência dos materiais, física, química, e áreas afins, de instituições do Estado de São Paulo e do Brasil. Como exemplo podemos citar algumas das técnicas avançadas que serão abordadas durantes os cursos de capacitação: as espectroscopias de perda de energia dos elétrons (EELS), espectroscopia de raios-X (EDS), difração de elétrons avançada (SAED, NBED, CBED), tomografia de elétrons, microscopia eletrônica quantitativa, tomografia de elétrons utilizando microscópia de feixe duplo, nano-litografia de íons e elétrons, microscopia eletrônica de varredura em transmissão, microscopia de sonda magnética, microscopia de sonda elétrica, microscopia infravermelha, etc. Como resultado, esse congresso também visa à melhora da produtividade e aumento do fator de impacto das publicações brasileiras, resultantes do uso destas novas técnicas de microscopias.

Contamos com sua presença!

Dr. Jefferson Bettini
Comissão Organizadora